IGT糖耐量受损 增加TIA患者卒中危险

　荷兰鹿特丹Erasmus医学中心
Vermeer等报告,在已经历过一过性脑
缺血发作(TIA)的非糖尿病患者中,糖
耐量受损(IGT)与卒中危险升高有独立
的相关关系。
[Stroke2006,37(6):1413]

IGT定义为随机血糖为7.8~11.0
mmol/L。已经知道,IGT可增加冠心病
患者的卒中危险,但IGT是否可增加TIA患者的卒中危险,还不明确。为此,Vermeer等以荷兰TIA试验中的3127例TIA患者为
研究对象,评估其卒中、心梗或心性死亡危险与基线随机血糖水平之间的关系(经
心血管危险因素校正后)。

结果显示,在平均时间为2.6年的随访期间,272人(9%)发生了卒中,200人(6%)
发生了心梗或心性死亡;基线随机血糖水平与卒中危险呈J型曲线;IGT患者、糖尿
病患者和低血糖者(随机血糖<4.6mmol/L)的卒中危险分别比血糖正常者增高了
80%、1.8倍和50%,而血糖水平与心梗或心性死亡危险之间都没有相关性。

研究提示:IGT是TIA患者未来发生卒中的独立危险因素。应开展新的二级预
防试验来评估强化血糖控制是否有助于降低1型和2型糖尿病患者的卒中发病危
险。